| 标题 |
Low-Temperature Perovskite Crystallization Suppresses Interfacial Thermal Stress for Robust and High-Resolution Flat-Panel X-Ray Imaging |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Adv Mater 作者:Wang Y, He Y, Cheng Z, Zhang Y, Yan W, Xu D, Liu S, Zhao Q, Xu X 出版日期:2026-08-31 |
| 求助人 | |
| 下载 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)