| 标题 |
 Comprehensive Fault Isolation Technologies for the Gate-All-Around Transistor and Backside Power Delivery Paradigm Shifts 相关领域
分离（微生物学）
晶体管
故障检测与隔离
工程类
断层（地质）
电子工程
电气工程
集成电路
功率（物理）
电子线路
过程（计算）
功率半导体器件
计算机科学
嵌入式系统
浅沟隔离
流量（数学）
逻辑门
钥匙（锁）
数码产品
场效应晶体管
可靠性（半导体）
设计流量
制造工艺
泄漏（经济）
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| 网址 | |
| DOI |
10.31399/asm.cp.istfa2025p0208
doi
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| 其它 |
期刊：International Symposium for Testing and Failure Analysis 作者：Mitchell J. Senger; Mauricio Posada; Christopher Morgan; Megan Knapp; Grace M. E. Khoo; et al 出版日期：2025-11-16 |
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(2025-6-4)
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