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 Extracting Voltage Dependence of BTI-induced Degradation Without Temporal Factors by Using BTI-Sensitive and BTI-Insensitive Ring Oscillators 利用BTI敏感和BTI不敏感环形振荡器提取无时间因素的BTI诱导退化的电压依赖性
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期刊：IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing 作者：Ryo Kishida; Takuya Asuke; Jun Furuta; Kazutoshi Kobayashi 出版日期：2020-03-24 |
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