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 Impact of heavy ion energy and species on single-event upset in commercial floating gate cells 重离子能量和种类对商用浮栅电池单事件扰动的影响
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期刊：Microelectronics Reliability 作者：Bing Ye; Li-Hua Mo; Pengfei Zhai; Li Cai; Tao Liu; et al 出版日期：2021-04-19 |
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