Multiscale modeling of defect-related phenomena in high-k based logic and memory devices

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标题	Multiscale modeling of defect-related phenomena in high-k based logic and memory devices
网址	http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/8052582/8060054/08060063...
DOI	10.1109/ipfa.2017.8060063 doi
其它	期刊：2017 IEEE 24th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) 作者：Andrea Padovani; Luca Larcher; Francesco Maria Puglisi; Paolo Pavan 出版日期：2017-10-25
求助人	新鲜哥在 2026-03-02 11:10:45 发布自乌克兰，悬赏 10 积分
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