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Intelligent detection technology of flip chip based on H-SVM algorithm 基于H-SVM算法的倒装芯片智能检测技术
相关领域
支持向量机
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微电子
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算法
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数学
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期刊:Engineering Failure Analysis 作者:Yuhua Sha; Zhenzhi He; Jiawei Du; Zheyingzi Zhu; Xiangning Lu 出版日期:2022-01-06 |
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