| 标题 |
 Deep Learning-Based ASM-HEMT I-V Parameter Extraction 基于深度学习的ASM-HEMT I-V参数提取
相关领域
高电子迁移率晶体管
均方根
蒙特卡罗方法
电压
萃取（化学）
计算机科学
过程（计算）
数据建模
算法
均方误差
氮化镓
电子工程
材料科学
数学
工程类
晶体管
统计
电气工程
化学
操作系统
色谱法
图层（电子）
复合材料
数据库
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：IEEE Electron Device Letters 作者：Fredo Chavez; Devin T. Davis; Nicholas C. Miller; Sourabh Khandelwal 出版日期：2022-08-10 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
极限001
学霸业
小马宝莉
嘻嘻哈哈
Ray
渡人舟
囧囧
GingerF
林狗
刻苦若之
Yinxb
mmyhn
My_magnum_opus
v0id
贪玩的秋柔
Dean
李文岐
东方鸾
shiyu0022
璐璐
皖公网安备34019202002308
