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 Simultaneous determination of thickness and ultrasonic velocity of micrometer-scale thin films using acoustic resonance and pulse-echo methods 相关领域
材料科学
薄膜
超声波传感器
反射（计算机编程）
光学
共振（粒子物理）
校准
声学
超声波检测
反演（地质）
声共振
薄层
光谱学
环氧树脂
谱线
反射率
反射系数
无损检测
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| 其它 |
期刊：Japanese Journal of Applied Physics 作者：Iwao MATSUYA 出版日期：2026-03-10 |
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