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Comprehensive Review of Wide-Bandgap (WBG) Devices: SiC MOSFET and Its Failure Modes Affecting Reliability |
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期刊:Physchem 作者:Ghulam Akbar; Alessio Di Fatta; Giuseppe Rizzo; Guido Ala; Pietro Romano; et al 出版日期:2025-03-03 |
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