| 标题 |
Determination of Optical Constants of Thin Films in the VUV and Soft X-ray Spectral Region with Synchrotron Spectroscopic Ellipsometry |
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| DOI |
10.1364/oic.2007.fa6
doi
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期刊:Optical Interference Coatings 作者:Minghong Yang 出版日期:2007-01-01 |
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(2025-6-4)