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 Studies of ESD-related failure patterns of Agilent oxide VCSELs Agilent氧化物VCSEL的ESD相关失效模式研究
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期刊：Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering/Proceedings of SPIE 作者：J. Krueger; Reena Sabharwal; Scott A. McHugo; Kimanh Nguyen; Ningxia Tan; et al 出版日期：2003-06-19 |
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