标题 |
Principle of the C-V Method for Measuring Impurity Distribution in Junction Diodes and Its Application
C-V法测量结型二极管中杂质分布的原理及其应用
相关领域
杂质
二极管
反向偏压
p-n结
分布(数学)
材料科学
电压
凝聚态物理
光电子学
电气工程
物理
数学
半导体
数学分析
工程类
量子力学
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其它 |
期刊: 作者:Xu Jing 出版日期:2006-01-01 |
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