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 Structure and hydrogen content of polymorphous silicon thin films studied by spectroscopic ellipsometry and nuclear measurements 用光谱椭偏和核测量研究多晶硅薄膜的结构和氢含量
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期刊：Physical review. B, Condensed matter and materials physics 作者：Anna Fontcuberta i Morral; Pere Roca i Cabarrocas; C. Clerc 出版日期：2004-03-10 |
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