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 Negative Gate Bias Induced $V_{\mathrm{t}\mathrm{h}}$ Instability in SiC MOSFET: Role of Body Diode Conduction 相关领域
MOSFET
二极管
光电子学
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热传导
不稳定性
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期刊： 作者：Wang Peixuan; Yunhong Lao; Meng Zhang; Youyi Yin; Hao Chang; et al 出版日期：2025-06-01 |
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