A unification of interface-state generation and hole-injection for hot-carrier-injection stress in low and high-voltage NMOSFET

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标题	A unification of interface-state generation and hole-injection for hot-carrier-injection stress in low and high-voltage NMOSFET
网址	https://doi.org/10.1016/j.microrel.2007.09.007
DOI	10.1016/j.microrel.2007.09.007 doi
其它	期刊：Microelectronics Reliability 作者：M.Z. Dai; S.I. Kim; Andrew Yap; Shaohua Liu; Arthur Cheng; Leeward Yi 出版日期：2008
求助人	hg 在 2026-05-28 23:44:43 发布自广东，悬赏 10 积分
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