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In-situ transmission electron microscopy study of nanotwinned copper under electromigration |
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期刊:2010 3rd International Nanoelectronics Conference (INEC) 作者:Chien-Neng Liao; Kuan-Chia Chen; Wen-Wei Wu; Lih-Juann Chen; K. N. Tu 出版日期:2010-03-09 |
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