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 Development of current-based microscopic defect analysis methods and associated optical filling techniques for the investigation on highly irradiated high resistivity silicon detectors 用于高辐照高电阻率硅探测器研究的基于电流的微观缺陷分析方法和相关光学填充技术的发展
相关领域
硅
辐照
电阻率和电导率
材料科学
电流（流体）
光电子学
探测器
纳米技术
光学
物理
核物理学
量子力学
热力学
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| 其它 |
期刊：Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A Accelerators Spectrometers Detectors and Associated Equipment 作者：C.J. Li; Z. Li 出版日期：1995-09-01 |
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