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Soft-Switching C O Hysteresis Losses in GaN HEMTs: A Resonant-Sawyer-Tower Measurement Method GaN HEMTs中的软开关CO磁滞损耗:谐振Sawyer-Tower测量方法
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计算机科学
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物理
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期刊:IEEE Transactions on Power Electronics 作者:Hongkeng Zhu; Yuan Zong; Yassin AlNuaimee; Yoan Codjia; Elison Matioli 出版日期:2024-08-14 |
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