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Device Reliability of Negative Capacitance Source Pocket Double Gate TFETs: A Study on Temperature and Noise Effects 负电容源袖珍双栅TFET器件可靠性:温度和噪声效应研究
相关领域
材料科学
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期刊:ECS Journal of Solid State Science and Technology 作者:K. Murali Chandra Babu; Ekta Goel 出版日期:2024-11-01 |
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