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Optimizing electrical AFM probing for 2D materials: The crucial role of tip-sample electrical interactions and back contact configurations 相关领域
材料科学
原子力显微镜
样品(材料)
纳米技术
电接点
光电子学
色谱法
化学
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期刊:Materials Science in Semiconductor Processing 作者:Md Ashiqur Rahman Laskar; Srijan Chakrabarti; S.M. Masum Ahmed; S. Amir Ghoreishi; Pinaka Pani Tummala; et al 出版日期:2024-12-28 |
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