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Temperature dependent structural, electrical and electronic investigation of VO2 (B) thin film 相关领域
单斜晶系
材料科学
大气温度范围
薄膜
相变
带隙
电阻率和电导率
凝聚态物理
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化学
晶体结构
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期刊:Current Applied Physics 作者:Manish Kumar; Younghak Kim; Hyun Hwi Lee 出版日期:2021-09-28 |
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