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 Site-Specific Plan-view (S)TEM Sample Preparation from Thin Films using a Dual-Beam FIB-SEM 使用双束FIB-SEM从薄膜制备特定位置平面图TEM样品
相关领域
聚焦离子束
样品制备
材料科学
对偶（语法数字）
纳米技术
样品（材料）
化学
色谱法
离子
艺术
文学类
有机化学
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期刊：Ultramicroscopy 作者：Supriya Ghosh; Fengdeng Liu; Sreejith G. Nair; Rishi Raj; Bharat Jalan; et al 出版日期：2025-01-13 |
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