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标题
Experimental Validation of a Compact Pinhole Latent Defect Model for MOS Transistors
MOS晶体管紧凑针孔潜在缺陷模型的实验验证
相关领域
晶体管 瓶颈 计算机科学 集成电路 电子工程 算法 材料科学 电气工程 光电子学 工程类 嵌入式系统 电压
网址
https://doi.org/10.1109/ted.2022.3191990
AI链接 kuleuven.bedoi.org
DOI
10.1109/ted.2022.3191990 doi
其它 期刊：IEEE Transactions on Electron Devices
作者：Jhon Gomez; Nektar Xama; Dirk Lootens; Anthony Coyette; Ronny Vanhooren; et al
出版日期：2022-07-22
求助人
温暖的弦 在 2025-12-10 20:45:48 发布自辽宁，悬赏 10 积分
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