| 标题 |
[高分]
A continual learning framework for adaptive defect classification and inspection 一种用于自适应缺陷分类和检测的持续学习框架
相关领域
计算机科学
分类器(UML)
目视检查
人工智能
探测器
构造(python库)
点云
数据挖掘
自动X射线检查
机器学习
计算机视觉
模式识别(心理学)
图像处理
图像(数学)
电信
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期刊:Journal of Quality Technology 作者:Raed Al Kontar; Judy Jin; Tzyy‐Shuh Chang 出版日期:2023-06-30 |
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