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Hydrogen induced interface passivation in atomic layer deposited Al2O3 films and Al2O3/SiO2 stacks |
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期刊:Materials Science in Semiconductor Processing 作者:Shizheng Li; Ning Yang; Xiao Yuan; Cui Liu; Xiaojun Ye; Hongbo Li 出版日期:2018 |
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(2025-6-4)