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 XPS depth profiling of functional materials: applications of ion beam etching techniques 功能材料的XPS深度分析：离子束刻蚀技术的应用
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期刊：Materials Chemistry Frontiers 作者：Dongying Li; Yangfei Chen; C. M. Zhou; Changrui Shi; Zhiqiang Xu; et al 出版日期：2024-01-01 |
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