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  Influence of thickness on crystallinity in wafer-scale GaTe nanolayers grown by molecular beam epitaxy 厚度对分子束外延生长晶片级栅极纳米层结晶度的影响
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期刊：AIP Advances 作者：Che Jin Bae; Jonathan McMahon; Hermann Detz; G. Strasser; Junsung Park; et al 出版日期：2017-03-01 |
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