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Study on dielectric charging in low-stress silicon nitride with the MIS structure for reliable MEMS applications 用于可靠MEMS应用的MIS结构低应力氮化硅介质充电研究
相关领域
材料科学
电容感应
光电子学
电容
电介质
氮化硅
电压
微电子机械系统
执行机构
硅
电气工程
电极
化学
工程类
物理化学
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| 其它 |
期刊:Journal of Micromechanics and Microengineering 作者:Haisheng San; Zhiqiang Deng; Yuxi Yu; Gang Li; Xuyuan Chen 出版日期:2011-11-22 |
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