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 Mechanistic Understanding of Additive Reductive Degradation and SEI Formation in High‐Voltage NMC811||SiOx‐Containing Cells via Operando ATR‐FTIR Spectroscopy 用Operando ATR-FTIR光谱研究高压NMC811SiOx电池中添加还原降解和SEI形成的机理
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期刊：Advanced Energy Materials 作者：Matthias Weiling; Christian Lechtenfeld; Felix Pfeiffer; Lars Frankenstein; Diddo Diddens; et al 出版日期：2023-12-06 |
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