| 标题 |
 In situ examination of oxygen non-stoichiometry in La0.80Sr0.20CoO3−δ thin films at intermediate and low temperatures by x-ray diffraction 中低温La0.80Sr 0.20 CoO3-δ薄膜中氧非化学计量的x射线衍射原位研究
相关领域
化学计量学
钴酸盐
氧气
一氧化碳
材料科学
分析化学（期刊）
结晶度
薄膜
晶格常数
镧
X射线晶体学
还原气氛
外延
衍射
化学
无机化学
物理化学
纳米技术
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光学
生物化学
物理
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冶金
复合材料
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期刊：Applied Physics Letters 作者：Michael D. Biegalski; Ethan J. Crumlin; Alex Belianinov; Eva Mutoro; Yang Shao‐Horn; et al 出版日期：2014-04-21 |
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