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 Evaluation of Y2O3 gate insulators for a-IGZO thin film transistors 相关领域
材料科学
薄膜晶体管
光电子学
无定形固体
阈值电压
绝缘体（电）
薄膜
电场
晶体管
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期刊：Thin Solid Films 作者：Young‐Je Cho; Jihoon Shin; Santosh M. Bobade; Young‐Bae Kim; Duck‐Kyun Choi 出版日期：2009-02-17 |
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