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Influence of Field Plate, Gate Width, and Voltage Dependence of Thermal Resistance (RTH) for AlGaN/GaN HEMT |
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Vaidehi Vijay Painter; Raphaël Sommet; Jean‐Christophe Nallatamby; P. Vigneshwara Raja 出版日期:2024-09-17 |
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(2025-6-4)