| 标题 |
 Defect Localization on MIM Capacitor Array by Circuit Edit using Focused-Ion Beam (FIB) 相关领域
电容器
材料科学
聚焦离子束
金属绝缘体金属
光电子学
电子线路
电气工程
断层（地质）
集成电路
电压
电子工程
离子
工程类
物理
地质学
地震学
量子力学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits 作者：Jed Paolo Deligente 出版日期：2020-07-20 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
无极微光
cdercder
Kao
yjh123
伶俐妙海
Nole
Nexus
EastWind
arniu2008
OK
火星上火
Orisol
sagitar
xjcy
潇洒的惋清
liuzhuohao
实验室
善良羿
tiptip
Copyright
皖公网安备34019202002308
