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Analysis on BVDSS Outlier Chips and Screening Technology for 1.2 kV Automotive SiC MOSFETs 1.2 kV车用SiC MOSFET BVDSS离群芯片及筛选技术分析
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期刊:2025 37th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD) 作者:Jinying Yu; Jingjing Cui; Bao Hu; Jie Deng; Baocheng Yuan 出版日期:2025 |
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(2025-6-4)