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 Ge incorporation in kesterite thin films by solution processing route: An in-depth study of structural and optoelectronic properties 溶液法在kesterite薄膜中掺入Ge：结构和光电性质的深入研究
相关领域
锌黄锡矿
材料科学
薄膜
光电子学
结晶学
纳米技术
化学
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期刊：Journal of Alloys and Compounds 作者：D. Mora-Herrera; Sadasivan Shaji; Mou Pal 出版日期：2022-07-05 |
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