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 84‐3: Breakthrough for Test Cost Reduction on Micro‐LED Device with High Parallel Single Insertion Testing of Electric‐Luminescence including External Quantum Efficiency and Electrical Test 84-3：通过包括外部量子效率和电学测试的电致发光的高并行单插入测试降低Micro-LED器件测试成本的突破
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期刊：SID Symposium Digest of Technical Papers 作者：Kotaro Hasegawa; Koji Miyauchi; Hiroshi Kaga 出版日期：2024-06-01 |
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