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Effect of Bottom Electrode Annealing Temperature and Atmosphere on Endurance Characteristics of Ferroelectric Hf 0.5 Zr 0.5 O 2 Capacitors 相关领域
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期刊:IEEE Electron Device Letters 作者:Hyeonjung Park; Changwoo Han; Y. Choi; Man‐Sik Choi; Sangmin Won; et al 出版日期:2025-09-01 |
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