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Testing low-temperature atomic layer deposition of aluminum oxide in a 36” chamber 相关领域
原子层沉积
氧化铝
图层(电子)
沉积(地质)
材料科学
铝
氧化物
冶金
复合材料
地质学
沉积物
古生物学
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| 其它 |
期刊: 作者:David M. Fryauf; Andrew C. Phillips; Nobuhiko P. Kobayashi; Michael Bolte; Aaron Feldman; et al 出版日期:2018-09-11 |
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