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 Negative Bias Temperature Instability in CMOS Devices 相关领域
负偏压温度不稳定性
CMOS芯片
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期刊：Microelectronic Engineering 作者：S. Mahapatra; M.A. Alam; P. Bharath Kumar; T.R. Dalei; D. Varghese; et al 出版日期：2005-06-01 |
| 求助人 |
小木虫2333
在
2026-07-28 08:04:19 发布，悬赏 10 积分
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