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![]() SiNx、SiOx和SiNO表面钝化的AlGaN/GaN MS-HEMTs性能比较研究
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期刊:Solid-State Electronics 作者:K. Y. Cheng; Shang‐Chi Wu; Chia-Jui Yu; Tongwen Wang; Jyun-Hao Liao; et al 出版日期:2020-04-24 |
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