Impedance-dependent degradation in GaN HEMTs under high-voltage RF stress: Electro-thermal and trap mechanisms

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标题	Impedance-dependent degradation in GaN HEMTs under high-voltage RF stress: Electro-thermal and trap mechanisms
网址	https://doi.org/10.1063/5.0271954
DOI	10.1063/5.0271954 doi
其它	期刊：Applied Physics Letters 作者：Linling Xu; Hui Guo; Shuai Wang; Jiaofen Yang; Yugang Zhou; et al 出版日期：2025-07-21
求助人	829302yft 在 2026-08-18 20:10:29 发布自上海，悬赏 10 积分
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