| 标题 |
 Integration of a Novel Knowledge-Guided Loss Function With an Architecturally Explainable Network for Machine Degradation Modeling 相关领域
可解释性
计算机科学
频域
稳健性（进化）
信号处理
人工智能
节点（物理）
时域
机器学习
数据挖掘
电子工程
工程类
数字信号处理
结构工程
生物化学
基因
计算机视觉
化学
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| 其它 |
期刊：IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 作者：Tongtong Yan; Yichu Fu; Ming Lu; Zhi Li; Changqing Shen; et al 出版日期：2022-01-01 |
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