| 标题 |
Dynamic Ron Characteristics on AlGaN/GaN-on-Si HFETs with Different Carbon-Doped GaN Layer Thickness |
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| DOI |
10.5370/kiee.2026.75.6.1297
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期刊:The transactions of The Korean Institute of Electrical Engineers 作者:Hyun-Seop Kim 出版日期:2026-06-09 |
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(2025-6-4)