| 标题 |
モノクロメーター搭載STEM-EELSによる局所電子状態分析 |
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| DOI |
10.11410/kenbikyo.56.2_73
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期刊:顕微鏡 作者:充貴 治田; 博基 倉田 出版日期:2021-08-30 |
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(2025-6-4)