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Evaluation of Interface Traps Within Drift Region in LDMOS Using a Multi-Pulse Test Method |
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期刊:IEEE Journal of the Electron Devices Society 作者:Qianwen Guo; Jiawei Cao; Ke Zhou; Fang Liu; Dongyan Zhao; et al 出版日期:2026-02-07 |
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(2025-6-4)