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 Negative Bias Temperature Instability in Low-Temperature Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors 相关领域
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Chih‐Yang Chen; Jam-Wem Lee; Shen-De Wang; Ming-Shan Shieh; Po-Hao Lee; et al 出版日期：2006-12-01 |
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