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 Investigation of charge-trap memories with AlN based band engineered storage layers AlN基能带工程存储层电荷陷阱存储器的研究
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期刊：Solid-State Electronics 作者：G. Molas; J. P. Colonna; R. Kies; D. Belhachemi; Marc Bocquet; et al 出版日期：2011-04-01 |
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