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 Rietveld refinement of Debye–Scherrer synchrotron X-ray data from Al2O3 Al2O3 Debye-Scherrer同步辐射X射线数据的Rietveld细化
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期刊：Journal of Applied Crystallography 作者：Paul Thompson; D. E. Cox; J. B. Hastings 出版日期：1987-04-01 |
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