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 Simulation-to-Reality based Transfer Learning for the Failure Analysis of SiC Power Transistors 相关领域
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期刊：2022 IEEE 27th International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation (ETFA) 作者：Simon Kamm; Sandra Bickelhaupt; Kanuj Sharma; Nasser Jazdi; Ingmar Kallfass; et al 出版日期：2022-09-06 |
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