A Multiphysics Simulation Framework for Electromigration Risk Assessment in Modern Interconnects

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标题	A Multiphysics Simulation Framework for Electromigration Risk Assessment in Modern Interconnects
网址	https://doi.org/10.1109/TED.2025.3588467
DOI	10.1109/TED.2025.3588467 doi
其它	期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Binyu Yin; Linlin Cai; Haoyu Zhang; Wangyong Chen 出版日期：2025
求助人	陈子豪在 2026-05-16 16:10:17 发布自福建，悬赏 10 积分
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